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螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x

簡(jiǎn)要描述:SJ5700DUAL螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x是大量程、高精度的主動(dòng)掃描式綜合輪廓測(cè)量?jī)x。它可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,非常適合大范圍陡坡表面測(cè)量,大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整,就可實(shí)現(xiàn)輕松測(cè)量。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-10-30
  • 訪  問  量:322

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
加工定制

SJ5700DUAL螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x是大量程、高精度的主動(dòng)掃描式綜合輪廓測(cè)量?jī)x。它可以全量程大范圍連續(xù)掃描,擁有長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米的持續(xù)爬坡能力,非常適合大范圍陡坡表面測(cè)量,大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜調(diào)整,就可實(shí)現(xiàn)輕松測(cè)量。

螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x

SJ5700DUAL螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)xX軸、Z軸采用獨(dú)立運(yùn)動(dòng)系統(tǒng),使用兩軸聯(lián)動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制算法,可實(shí)現(xiàn)X、Z雙軸聯(lián)動(dòng)掃描,測(cè)量時(shí)測(cè)針在工件表面做仿形運(yùn)動(dòng)掃描(主動(dòng)掃描),既保持了恒測(cè)力,又保證了大的陡坡通過能力,工件調(diào)平操作簡(jiǎn)單,同時(shí)避免了崩針、掛針等問題。


應(yīng)用領(lǐng)域

可用于長(zhǎng)軸類、筒類、曲面零件、絲杠、螺紋等高精度部件的內(nèi)外徑尺寸、內(nèi)外輪廓形貌參數(shù)測(cè)量,非常適合航空、船舶、高鐵、新能源汽車等行業(yè)。

螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

螺紋和輪廓一體化測(cè)量

1.雙向螺紋流程化操作,配合螺紋夾具自動(dòng)找到拐點(diǎn),簡(jiǎn)單方便。

2.螺紋全自動(dòng)識(shí)別測(cè)針、夾具,避免操作失誤引起撞針等問題。

3.儀器在各個(gè)運(yùn)動(dòng)軸都有進(jìn)行保護(hù),能有效的保護(hù)儀器,降低人員操作失誤帶來的損傷。

4.智能恒測(cè)力接觸,雙向電子測(cè)力10-150mN任意可調(diào),降低了測(cè)力變化引起的測(cè)量誤差,適合測(cè)量各類軟、硬性工件。

5.組合調(diào)節(jié)控制手柄,可快速完成載物臺(tái)平移、X軸和Z軸定位和測(cè)桿上下角度擺動(dòng)及速度分多級(jí)調(diào)節(jié)功能。

6.軟件支持的單側(cè)、雙側(cè)、內(nèi)外4側(cè)輪廓的掃描及輪廓分析。

百毫米超大量程爬坡測(cè)量

1.大量程200/300/400mm行程可選,持續(xù)長(zhǎng)達(dá)數(shù)百毫米爬坡下坡能力,爬坡可達(dá)78°,87°智能下坡,非常適合大范圍陡坡表面測(cè)量,大工件無需翻轉(zhuǎn)、傾斜,可以避免測(cè)針磕碰損傷。

2.Z軸獨(dú)立運(yùn)動(dòng)設(shè)計(jì),X、Z雙軸聯(lián)動(dòng)掃描,具有恒測(cè)力和大陡坡通過能力。

3.采用高精度導(dǎo)軌系統(tǒng),導(dǎo)軌直線度高,導(dǎo)軌材料耐磨性好、保證系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作。

4.高性能伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),保證測(cè)量穩(wěn)定性高、重復(fù)性好。

5.通過簡(jiǎn)單的標(biāo)定操作,能對(duì)儀器參數(shù)和測(cè)針磨損進(jìn)行補(bǔ)償修正,使其滿足高精度測(cè)量。

自動(dòng)、批量、快速測(cè)量

1.對(duì)于簡(jiǎn)單的工件只需要設(shè)置測(cè)量長(zhǎng)度即可一鍵測(cè)量。

對(duì)于復(fù)雜的工件,可以指工件的任意位置進(jìn)行分段測(cè)量,并做成輪廓模板便于批量測(cè)量。

2、CNC固定坐標(biāo)系模式下,可快速精確地進(jìn)行輪廓批量測(cè)量,自動(dòng)分析處理數(shù)據(jù)。

3.自動(dòng)保存測(cè)量結(jié)果,測(cè)量完成后可輸出測(cè)量報(bào)告,形式多樣。


典型應(yīng)用

螺紋雙向掃描型輪廓測(cè)量?jī)x


部分技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)SJ5700DUAL
參數(shù)測(cè)量范圍X軸0~235mm(全程光柵)
Z軸0~235mm(全程光柵)
掃描速度0.1~2mm/s
爬坡能力上坡78o,下坡87 o
Y向工作臺(tái)移動(dòng)范圍25mm,工作臺(tái)整體高度85mm(可選自動(dòng)臺(tái))
螺紋測(cè)量
螺紋測(cè)量范圍內(nèi)螺紋:M3~M200,外螺紋:M3~M200(根據(jù)配置選擇范圍)
輪廓測(cè)量直徑測(cè)量范圍內(nèi):Φ3~Φ200,外:Φ3~Φ200(根據(jù)配置選擇范圍)










表面質(zhì)量測(cè)量








粗糙度測(cè)量參數(shù)

R粗糙度:

Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;

核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;

P輪廓參數(shù):

Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;

W波紋度輪廓參數(shù):

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;

Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;

符合標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,

DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,

JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。

Ra測(cè)量范圍Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍)
儀器尺寸1200×500×980mm
儀器重量100kg

懇請(qǐng)注意:因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。

如有疑問或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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