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光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x的工作原理

更新時(shí)間:2022-09-01      點(diǎn)擊次數(shù):1758
光學(xué)輪廓儀是用于3D形貌定量測(cè)試,和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x是精密光學(xué)測(cè)量設(shè)備,振動(dòng)會(huì)對(duì)其測(cè)量精度造成擾動(dòng),所以幾乎都會(huì)配有隔振平臺(tái)。
3d光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),能達(dá)到微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)的測(cè)量。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量要求高的領(lǐng)域中。
光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x工作原理:
光學(xué)3D輪廓儀是利用光學(xué)顯微技術(shù)、白光干涉掃描技術(shù)、計(jì)算機(jī)軟件控制技術(shù)和PZT垂直掃描技術(shù)對(duì)工件進(jìn)行非接觸測(cè)量,還原出工件3D表面形貌宏微觀信息,并通過(guò)軟件提供的多種工具對(duì)表面形貌進(jìn)行各種功能參數(shù)數(shù)據(jù)處理,實(shí)現(xiàn)對(duì)各種工件表面形貌的微納米測(cè)量和分析的光學(xué)計(jì)量?jī)x器。

光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x只需操作者裝好被測(cè)工件,在檢定軟件上設(shè)定物鏡倍率和測(cè)量模式后點(diǎn)擊“開(kāi)始"按鈕,光學(xué)物鏡會(huì)對(duì)工件表面進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦和非接觸掃描,并按設(shè)定的位置進(jìn)行測(cè)量,軟件界面會(huì)實(shí)時(shí)掃描物體宏微觀表面形貌;掃描結(jié)束后,操作者可通過(guò)分析工具對(duì)生成的3D形貌進(jìn)行分析,得到如輪廓、厚度、粗糙度、體積等多種表面形貌測(cè)量分析數(shù)據(jù)。主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并快速獲得被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。

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光學(xué)3D輪廓測(cè)量?jī)x


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